瑞士梅特勒-托利多超越系列XP/XS超微量天平/微量天平/电子天平
梅特勒-托利多XP2U/XP6/XS3DU(超)微量天平在处理昂贵、易分解或者有毒物质时，尽可能减少样品使用量意味着可以大大降低成本。而XP26/XP56微量天平特别适用于将微量样品直接加入大的去皮容器中。可以有效避免样品转移过程中的误差和浪费。
梅特勒分析天平XP6U超微量
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梅特勒XP56 微量天平
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山西岛津AUW120D半微量分析天平
率先采用铝整体型质量传感器“UniBloc”的分析天平。 AUW-D/AUW/AUX/AUY系列彻底追求可靠性、快速响应性和使用简便三要素。由于装备“UniBloc”，实现惊人的可靠性、响应性、使用便利性。
ESJ182-4十万分之一电子天平
ESJ182-4十万分之一电子天平后置式电磁力传感器，天平内装校准砝码，便于随时校准，具有超载/欠载报警、全量程去皮、累加/累减、底钩称量等功能，可满足各种实验室质量分析之需求。可选配RS232接口。